多光源策略：低角度光、暗场光，强化微弱裂纹缺陷特征，弱化反光干扰
自研 AI 视觉算法，实现微米级缺陷精准识别
AI 分割模型提取缺陷区域、轮廓形态
内置尺寸测量模块，输出缺陷长度、宽度、面积量化数据
检测结果与屏幕 SN 码绑定，一物一档
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项目 |
具体参数 |
| 产品概述 |
屏幕裂纹与边缘缺陷检测设备，采用多光源成像 + AI 分割识别技术，针对低对比度、 弱特征的屏幕裂纹、边缘类缺陷，输出可定位、可测量、可追溯的检测结果， 适配龙腾光电等显示面板厂商的屏幕出厂缺陷检测场景。 |
| 解决难点 |
屏幕边缘裂纹、微小崩边、划伤、异物等缺陷尺寸微小，缺陷对比度低，极易受反光、 边缘纹理干扰；传统视觉算法需要频繁调参，检测稳定性差，弱缺陷漏检风险高。 |
| 检测效果 |
裂纹｜崩边｜划伤｜异物｜脏污｜边缘缺损｜亮暗点辅助检测｜OCR / 条码绑定 |
| 应用优势 |
· 多光源策略：低角度光、暗场光，强化微弱裂纹缺陷特征，弱化反光干扰 · 自研 AI 视觉算法，实现微米级缺陷精准识别 · AI 分割模型提取缺陷区域、轮廓形态 · 内置尺寸测量模块，输出缺陷长度、宽度、面积量化数据 · 检测结果与屏幕 SN 码绑定，一物一档 · 完整复判记录，支持缺陷回溯与数据分析
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